Тематика стенда:

• Измерительные и испытательные комплексы для ЭМС;
• Поиск анализа отказов в микроэлектронике;
• Оптические методы визуального контроля качества;
• Методы устранения вибраций и электромагнитных помех на производстве и в лабораторных условиях.

ООО «Серния» представит на выставке оборудование, необходимое для решения ежедневных задач промышленных лабораторий.

Измерительный/испытательный комплекс №1

Состав:

• комбинированный осциллограф MDO4000C Tektronix со встроенным анализатором спектра;
• пробники ближнего поля (Beehive Electronics);
• генератор сигналов AFG 3251C (Tektronix).

Описание:

Комплекс предназначен для локализации источников нежелательного излучения на плате устройства в процессе проектировки; первичного определения уровня ЭМ излучения носимых электронных устройств; проведения предварительных испытаний на ЭМ-совместимость с помощью пробников ближнего поля.

Портативный измерительный комплекс №2

Состав:

• анализатор спектра RSA306 + штыревая гибкая антенна (Tektronix);
• рабочая станция (ноутбук с установленным ПО SignalVu);
• токовый пробник BCP-512 (A.H.Systems).

Описание:

Портативный измерительный комплекс Tektronix (анализатор спектра Tektronix RSA306 с антенной + рабочая станция + токовый пробник A.H.Systems) предназначен для решения первичного определения источника нежелательного ЭМ излучения на территории объекта в диапазоне частот 9 кГц до 6 ГГц; определения уровня кондуктивных помех устройств на территории объекта в диапазоне частот 1 МГц — 1 ГГц; мониторинга частотного спектра в диапазоне до 6 ГГц.

Оптические методы визуального контроля

Для нужд микроэлектроники компания представит передовую модель оптического цифрового микроскопа Keyence VHX-5000 (5000-кратное увеличение, угол обзора до 360°). Данный микроскоп обладает преимуществами оптического, стереоскопического и металлографического микроскопов.

Также на стенде компании ООО «Серния» будет демонстрироваться презентация «Новые методы поиска анализа неисправностей микросхем».