|
|
| Каталог |
На портале представлено:
предприятий 1738, продукции 13738 |
|
|
| : Микроскоп электронный растровый JSM-7401F |
|
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций. |
|
| Основные данные |
| Информация по Госреестру |
| Номер по Госреестру | 37836-08 |
| Наименование | Микроскоп электронный растровый |
| Модель | JSM-7401F |
| Технические условия на выпуск | тех. документация фирмы |
| Категория | Микроскопы |
| Производитель / заявитель | Фирма "Jeol", Япония |
| Производитель | Фирма "Jeol", Япония |
| Класс СИ | 27-Jan |
| Год регистрации | 2008 |
| Страна-производитель | Япония |
|
| Центр сертификации СИ |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
| Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
| Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
| Телефон | (8*095) 935-97-77 |
| Факс | 132-60-13 |
|
| Информация о сертификате |
| Номер сертификата | 31758 |
| Срок действия сертификата | . . |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 07 от 29.05.08 п.19 |
|
|
|
|
|
