|
|
| Каталог |
На портале представлено:
предприятий 1738, продукции 13738 |
|
|
| : Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 |
|
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. |
|
| Основные данные |
| Информация по Госреестру |
| Номер по Госреестру | 48388-11 |
| Наименование | Микроскоп электронно-ионный растровый |
| Модель | Helios NanoLab 650 |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Категория | Микроскопы |
| Производитель / заявитель | Фирма "FEI Company", США |
| Производитель | Фирма "FEI Company", США |
| Класс СИ | 27-Jan |
| Год регистрации | 2011 |
| Страна-производитель | США |
|
| Центр сертификации СИ |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
| Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
| Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
| Телефон | (8*095) 935-97-77 |
| Факс | 132-60-13 |
|
| Информация о сертификате |
| Номер сертификата | 44655 |
| Срок действия сертификата | . . |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | Приказ 6354 от 06.12.11 п.08 |
|
|
|
|
|
