Предназначен для исследования повторяющихся импульсных сигналов пико-, нано- и микросекундной длительности, измерения параметров неоднородностей в коакснально-полоско-вых СВЧ трактах с волновым сопротивлением 50 Ом импульс-ным методом (режим рефлектометра), определения ПХ радиоустройств. Имеет два режима работы - осциллографический и реф-лектометрический. В режиме импульсного рефлектометра позволяет определить коэффициент отражения импульса от данной неоднородности, расстояние до нее и характер неоднородности с высокой разрешающей способностью (1 см по расстоянию между двумя соседними неоднородностями в линиях с воздушным диэлектриком). Отраженные от неоднородностей линий сигналы наблюдаются на экране осциллографа. Цифровой отсчет позволяет оперативно и с большой точностью определять местоположение неоднородностей. Основные данные  Полоса пропускания 0-10 ГГц  Коэффициент отклонения 5-200 мВ/дел  Коэффициент развертки 20 нс/дел-0,5 мке/дел   Погрешность коэффициентов отклонения и развертки ±5% Режим рефлектометра  Время нарастания фронта зондирующего импульса, наблюдаемого на экране, <70 пс  Диапазон измеряемых коэффициентов отражения 0,005-1  Разрешающая способность по расстоянию-1 см (в линиях с воздушным заполнением)  Погрешность цифрового отсчета расстояний (временных интервалов) ±3%  Максимальное расстояние до измеряемых неоднородностей (для линий с воздушным заполнением) 750 м