|
|
Catalog |
On portal is presented: enterprise 1737, product 13738 |
|
|
: Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47 |
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики) с атомарным разрешением. Применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурных материалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательскихи учебных организациях. |
|
Основные данные |
Информация по Госреестру |
Номер по Госреестру | 37834-08 |
Наименование | Микроскопы сканирующие зондовые |
Технические условия на выпуск | тех. документация фирмы |
Производитель / заявитель | Фирма "NT-MDT", г.Москва |
Производитель | Фирма "NT-MDT", г.Москва |
Класс СИ | 27-Jan |
Год регистрации | 2008 |
Страна-производитель | Россия |
|
Центр сертификации СИ |
Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
Телефон | (8*095) 935-97-77 |
Факс | 132-60-13 |
|
Информация о сертификате |
Номер сертификата | 31756 |
Срок действия сертификата | . . |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
Дата протокола | 07 от 29.05.08 п.17 |
|

|
|
|