|
|
| Catalog |
On portal is presented:
enterprise 1737, product 13738 |
|
|
| : Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47 |
| Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики) с атомарным разрешением. Применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурных материалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательскихи учебных организациях. |
|
| Основные данные |
| Информация по Госреестру |
| Номер по Госреестру | 37834-08 |
| Наименование | Микроскопы сканирующие зондовые |
| Технические условия на выпуск | тех. документация фирмы |
| Производитель / заявитель | Фирма "NT-MDT", г.Москва |
| Производитель | Фирма "NT-MDT", г.Москва |
| Класс СИ | 27-Jan |
| Год регистрации | 2008 |
| Страна-производитель | Россия |
|
| Центр сертификации СИ |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
| Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
| Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
| Телефон | (8*095) 935-97-77 |
| Факс | 132-60-13 |
|
| Информация о сертификате |
| Номер сертификата | 31756 |
| Срок действия сертификата | . . |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 07 от 29.05.08 п.17 |
|
|
|
|
|
