|
|
Каталог |
На портале представлено: предприятий 1737, продукции 13738 |
|
|
Классификатор средств измерений: Микроскоп электронный растровый JSM-7401F |
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций. |
|
Основные данные |
Информация по Госреестру |
Номер по Госреестру | 37836-08 |
Наименование | Микроскоп электронный растровый |
Технические условия на выпуск | тех. документация фирмы |
Производитель / заявитель | Фирма "Jeol", Япония |
Производитель | Фирма "Jeol", Япония |
Класс СИ | 27-Jan |
Год регистрации | 2008 |
Страна-производитель | Япония |
|
Центр сертификации СИ |
Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
Телефон | (8*095) 935-97-77 |
Факс | 132-60-13 |
|
Информация о сертификате |
Номер сертификата | 31758 |
Срок действия сертификата | . . |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
Дата протокола | 07 от 29.05.08 п.19 |
|

|
|
|