|
|
| Catalog |
On portal is presented:
enterprise 1737, product 13738 |
|
|
| : Микроскоп атомно-силовой Dimension 3100 |
| Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном при сканировании поверхности зондом. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники. |
|
| Основные данные |
| Информация по Госреестру |
| Номер по Госреестру | 39771-08 |
| Наименование | Микроскоп атомно-силовой |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Производитель / заявитель | Фирма "Veeco Instruments Inc.", США |
| Производитель | Фирма "Veeco Instruments", США |
| Класс СИ | 27-Jan |
| Год регистрации | 2008 |
| Страна-производитель | США |
|
| Центр сертификации СИ |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
| Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
| Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
| Телефон | (8*095) 935-97-77 |
| Факс | 132-60-13 |
|
| Информация о сертификате |
| Номер сертификата | 34292 |
| Срок действия сертификата | . . |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 14д от 25.12.08 п.93 |
|
|
|
|
|
