Пинцеты медицинские
Информационный портал приборов и деталей
Оптовые поставк
Классификатор средств измерений: Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT
Назад

Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурныхматериалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.
Основные данные
Информация по Госреестру
Номер по Госреестру 40597-09
НаименованиеМикроскопы сканирующие зондовые
Технические условия на выпускТУ 4254-004-40349675-2008
Производитель / заявительЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
ПроизводительЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Класс СИ27-Jan
Год регистрации2009
Страна-производительРоссия
Центр сертификации СИ
Наименование центраГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес центра119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель центраТодуа Павел Андреевич
Телефон(8*095) 935-97-77
Факс132-60-13
Информация о сертификате
Номер сертификата35432
Срок действия сертификата01.06.2014
Тип сертификата (C - серия/E - партия)С
Дата протокола05 от 28.05.09 п.59


Версия для печати | Поиск информации

Контрольно-измерительные прибо
ООО «Медремкомплект»
Авторизация
зарегистрировано 2955
Логин:
Пароль:
Зарегистрироваться
Забыли пароль?

Скупка радиоприборов и компоне
ЗАВОДПРИБОР
Главная | Форум | Поиск | Помощь | Карта портала | Контакты | Реклама
© Priboridetali , 2025. Правила использования материалов

Здесь находится аттестат нашего WM идентификатора 250165105183
Яндекс цитирования
Сервер радиолюбителей России - схемы, документация,
 соревнования, дипломы, программы, форумы и многое другое!
Яндекс.Метрика