: Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Основные данные
Информация по Госреестру
Номер по Госреестру	48388-11
Наименование	Микроскоп электронно-ионный растровый
Технические условия на выпуск	тех.документация фирмы
Производитель / заявитель	Фирма "FEI Company", США
Производитель	Фирма "FEI Company", США
Класс СИ	27-Jan
Год регистрации	2011
Страна-производитель	США

Центр сертификации СИ
Наименование центра	ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес центра	119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель центра	Тодуа Павел Андреевич
Телефон	(8*095) 935-97-77
Факс	132-60-13

Информация о сертификате
Номер сертификата	44655
Срок действия сертификата	. .
Тип сертификата (C - серия/E - партия)	Е
Дата протокола	Приказ 6354 от 06.12.11 п.08

Version for printing | Поиск информации