Пинцеты медицинские
Информационный портал приборов и деталей
Оптовые поставк
Классификатор средств измерений: Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650
Назад

Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Основные данные
Информация по Госреестру
Номер по Госреестру 48388-11
НаименованиеМикроскоп электронно-ионный растровый
Технические условия на выпусктех.документация фирмы
Производитель / заявительФирма "FEI Company", США
ПроизводительФирма "FEI Company", США
Класс СИ27-Jan
Год регистрации2011
Страна-производительСША
Центр сертификации СИ
Наименование центраГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес центра119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель центраТодуа Павел Андреевич
Телефон(8*095) 935-97-77
Факс132-60-13
Информация о сертификате
Номер сертификата44655
Срок действия сертификата. .
Тип сертификата (C - серия/E - партия)Е
Дата протоколаПриказ 6354 от 06.12.11 п.08


Версия для печати | Поиск информации

Контрольно-измерительные прибо
ООО «Медремкомплект»
Авторизация
зарегистрировано 2960
Логин:
Пароль:
Зарегистрироваться
Забыли пароль?

Скупка радиоприборов и компоне
ЗАВОДПРИБОР
Главная | Форум | Поиск | Помощь | Карта портала | Контакты | Реклама
© Priboridetali , 2025. Правила использования материалов

Здесь находится аттестат нашего WM идентификатора 250165105183
Яндекс цитирования
Сервер радиолюбителей России - схемы, документация,
 соревнования, дипломы, программы, форумы и многое другое!
Яндекс.Метрика