Русский
/
English
Главная
Форум
Поиск
Помощь
Карта сайта
Блокнот
Контакты
Реклама
Сделать стартовой
Каталог
На портале представлено:
предприятий 1737, продукции 13738
Каталог продукции
Список компаний
Форум
Фотогалерея
Торговая площадка
Приборы
Детали
Новости, статьи
Новости отрасли
Пресс-релизы
Статьи
Интервью
Дайджест СМИ
Календарь событий
Выставки
Семинары и конференции
Конкурсы и викторины
Полезная информация
Справочник метролога
Полезные ссылки
Работа, образование
Вакансии
Резюме
Классификатор средств измерений: Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650
Назад
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Основные данные
Информация по Госреестру
Номер по Госреестру
48388-11
Наименование
Микроскоп электронно-ионный растровый
Технические условия на выпуск
тех.документация фирмы
Производитель / заявитель
Фирма "FEI Company", США
Производитель
Фирма "FEI Company", США
Класс СИ
27-Jan
Год регистрации
2011
Страна-производитель
США
Центр сертификации СИ
Наименование центра
ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес центра
119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель центра
Тодуа Павел Андреевич
Телефон
(8*095) 935-97-77
Факс
132-60-13
Информация о сертификате
Номер сертификата
44655
Срок действия сертификата
. .
Тип сертификата (C - серия/E - партия)
Е
Дата протокола
Приказ 6354 от 06.12.11 п.08
Версия для печати |
Поиск информации
Авторизация
зарегистрировано
2960
Логин:
Пароль:
Зарегистрироваться
Забыли пароль?
Главная
|
Форум
|
Поиск
|
Помощь
|
Карта портала
|
Контакты
|
Реклама
©
Priboridetali
, 2025.
Правила использования материалов